HALT（Highly Accelerated Life Test，高加速寿命试验）、HASS（Highly Accelerated Stress Screening，高加速应力筛选）是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为世界范围内电子业界的标准产品验证方法。在保持失效机理不变的条件下，通过加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致。从而缩短了试验时间，提高了试验效率，降低了试验成本。

HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段，能够及早地发现产品可靠性的薄弱环节。包含以下内容：

a、逐步施加应力直到产品失效或出现故障；

b、采取临时措施，修正产品的失效或故障；

c、继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，并再次加以修正；

d、重复以上应力 — 失效 — 修正的步骤；

e、找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。

HASS应用于产品的生产阶段，以确保所有在HALT 中找到的改进措施能够得到实施。HASS 包含如下内容：

a、进行预筛选、剔除可能发展为明显缺陷的隐性缺陷；

b、进行探测筛选、找出明显缺陷；

c、故障分析；改进措施。

● GBT 29309-2012 电工电子产品加速应力试验规程 高加速寿命试验导则

● GBT32466-2015 电工电子产品加速应力试验规程 高加速应力筛选导则

● GMW8287-2011 Highly Accelerated Life Testing(HALT)  Highly Accelerated Stress Screening and Auditing 

● 国电工电子产品环境标委会气候委员会主任委员单位

● 机械工业环境适应性检测中心

● CNAS能力验证低温试验提供者（PTP）单位